Mikroszkópia és 3D nyomtatás nano-méretben

A hagyományos, a felület vizsgálatára korlátozódó pásztázó elektronmikroszkópos (SEM) -képalkotáshoz képest a FIB-SEM egy olyan eszköz, amely lehetővé teszi, hogy feltárjuk a felszín alatti struktúrákat. A mintából a FIB akár 3 nm vatagságú rétegeket is eltávolíthat. Az ismétlődő FIB marás, majd az ezt követő SEM képalkotás olyan képhalmazt eredményez, amelyből mesterséges intelligencia segítségével rekonstruálható a minta 3 dimenziós térfogata.