A nanométeres világ vizsgálata – ellipszometria a gyakorlatban

Hogyan vizsgálhatunk meg olyan vékonyrétegeket, amelyek tízezerszer vékonyabbak egy hajszálnál?  Az ellipszometria egy roncsolásmentes optikai módszer, amely nanométeres felületek és akár atomi vastagságú rétegek tulajdonságait tárja fel. Ma már az elektronikai ipartól a napelemekig számos területen használják – az előadásban kiderül, hogyan működik a gyakorlatban.

A program helyszíne: 1121 Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33., KFKI Campus Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet Fotonika Laboratórium (26-os épület)

Kérjük, hogy a program kezdete előtt 15 perccel érkezzenek meg a portára.

A telephelyre történő belépés, és így a programokon való részvétel 14 éves kortól lehetséges.

Kérjük, hozzanak magukkal érvényes személyazonosító igazolványt; a recepción a DÁP nem kerül elfogadásra.